Equipo de detección de defectos de conector

Diseñado por expertos líderes en China, el equipo de detección de defectos de conectores Fuwei emplea tecnología de punta para detectar e identificar defectos meticulosamente, garantizando los más altos niveles de calidad y rendimiento del producto. Como fabricante y proveedor, estamos comprometidos a ofrecer productos superiores que cumplan con rigurosos estándares industriales. Nuestros precios competitivos garantizan la accesibilidad sin comprometer la calidad, lo que convierte a este equipo en un activo invaluable para las empresas que buscan precisión y eficiencia en los procesos de fabricación de conectores. Con el equipo de detección de defectos de conectores de Fuwei, los clientes pueden esperar confiabilidad, precisión y valor inigualables, lo que les permitirá mantener una calidad excepcional del producto y al mismo tiempo optimizar la eficiencia de la producción.

Elementos de detección

Espaciado de pines, valor de GAP, precisión posicional, exposición de la PUNTA, PIN arrodillado, PIN roto, deformación, rayones, adhesivo, objetos extraños, rayones, desbordamiento, etc.

Dificultad

Es difícil presentar defectos en la fotografía con luz, con una amplia variedad de tipos de defectos, diferentes formas y tamaños y diferentes áreas de aparición, lo que resulta en una alta complejidad.

Resultado

Detección precisa de varios defectos de conectores con una tasa de detección fallida de menos del 0,1%

Productos detectables

Imagen óptica

En respuesta a los diversos tipos, formas y tamaños de defectos de conectores, hemos desarrollado nuestro propio sistema de imágenes ópticas para resolver problemas de imágenes para diferentes tipos de conectores.

Introducción a las características de las imágenes.

Combinación de fuentes de luz, imágenes en múltiples posiciones

Combine diferentes fuentes de luz para obtener imágenes con diferentes fuentes de luz, fusione imágenes mediante algoritmos para reducir los puntos ciegos de las imágenes.

Un escaneo, salida a múltiples caras

Admite exposición en tiempo compartido para la captura de imágenes, genera múltiples imágenes completas para inspeccionarlas en un solo escaneo
Un solo escaneo puede obtener imágenes iluminadas desde múltiples ángulos, como campo brillante, campo oscuro, luz de fondo, etc. La iluminación de múltiples ángulos mejora en gran medida la tasa de detección de defectos.